設置機関 | 東京大学 |
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研究科・学部 | |
設備分類 | 顕微鏡 > 透過電子顕微鏡 |
製造元 | 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.) |
型番 | JEM-2000EX |
設備名称 | 高分解能トップエントリー型透過電子顕微鏡 |
装置スペック | □ 主な仕様 (1)本体 加速電圧 : 80、100、120、160、200kV 電子線源 : 単結晶LaB6 分解能 : 0.1nm(格子像) 試料最大傾斜角 : ±10° 排気方式 : 油拡散ポンプ (2)画像記録 シートフィルム |
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