設置機関 | 東京大学 |
---|---|
研究科・学部 | |
設備分類 | 顕微鏡 > 透過電子顕微鏡 |
製造元 | 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.) |
型番 | JEM-4010 |
設備名称 | 高分解能透過型分析電子顕微鏡 |
装置スペック | (1)本体 加速電圧 : 100、150、200、250、300、350、400kV 電子線源 : 単結晶LaB6 焦点距離 : 3. 1mm 球面収差係数 : 0.7mm 色収差係数 : 1.6mm 分解能 : 0.155nm(粒子像) 試料最大傾斜角 :±25° 真空度 : 3×10-5Pa以下(試料室) 排気方式 : イオン、油拡散ポンプ (2)電子線損傷低減装置(MDS) 組込 (3)画像記録 シートフィルムおよびイメージングプレート(25μm/ピクセル) (4)分析装置 エネルギーロス型分光器(PEELS) : 組込 エネルギー分散型分光器(EDS) : 組込 |
掲載内容に不備がある場合、情報が古い場合などはこちらから修正の報告をお願いします。