走査型X線光電子分光分析装置
学内学外とも共用
| 設置機関 | 東海国立大学機構・岐阜大学 |
|---|---|
| 研究科・学部 | |
| 設備分類 | 表面分析 > XPS |
| 製造元 | アルバック・ファイ |
| 型番 | Quantera SXM-GS |
| 設備名称 | 走査型X線光電子分光分析装置 |
| 装置スペック | Quantera-SXM-GSは固体極表面の数原子層での元素組成や化学結合状態の分析が可能である。分析できる試料表面からの深さは0.5 ~ 5 nmほどで、走査電子顕微鏡のエネルギー分散型X線分析装...[詳細] |
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