走査型プローブ顕微鏡 (Scanning Probe Microscope)
学内学外とも共用
マテリアル先端リサーチインフラ
| 設置機関 | 筑波大学 |
|---|---|
| 研究科・学部 | |
| 設備分類 | 顕微鏡 > 走査プローブ顕微鏡 |
| 製造元 | Bruker (Bruker) |
| 型番 | Dimension Icon |
| 設備名称 | 走査型プローブ顕微鏡 (Scanning Probe Microscope) |
| 装置スペック | 形状測定モード: タッピングモード, コンタクトモード 物性測定モード： 電気・磁気特性（EFM/SSRM/KPFM/MFM他） 機械特性（粘弾性/水平力） 試料サイズ：直径 <Φ150mm, 厚さ <10mm 最大スキャン範囲：XY 90μmx90μm, Z 10μm Z方向ノイズ：0.03nm RMS 測定環境：大気中, 液中（要相談） |
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