デバイス >
半導体特性評価システム (Electrical Measurement System)
学内学外とも共用
マテリアル先端リサーチインフラ
| 設置機関 | 筑波大学 |
|---|---|
| 研究科・学部 | |
| 設備分類 | デバイス > |
| 製造元 | キーサイト (Keysight) |
| 型番 | B1500A |
| 設備名称 | 半導体特性評価システム (Electrical Measurement System) |
| 装置スペック | IV測定、CV測定、高速パルスドIV測定に対応。 IV測定範囲；0.1fA～1A/0.5μV～200V タイムサンプリング；100μs パルス最小測定幅；100μs(MCSMU) 容量測定 周波数範囲；1kHz～5MHｚ パルスド測定 波形生成分解能；10ns 測定分解能；5ns |
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