低加速電圧対応原子分解能走査型透過電子顕微鏡 (Low-voltage atomic-resolution Scanning Transmision Electron Microscopy)
学内学外とも共用
マテリアル先端リサーチインフラ
| 設置機関 | 東京大学 |
|---|---|
| 研究科・学部 | |
| 設備分類 | 顕微鏡 > 透過電子顕微鏡 |
| 製造元 | 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.) |
| 型番 | JEM-ARM200CF |
| 設備名称 | 低加速電圧対応原子分解能走査型透過電子顕微鏡 (Low-voltage atomic-resolution Scanning Transmision Electron Microscopy) |
| 装置スペック | □ 主な仕様 ・冷陰極電界放出電子銃 ・加速電圧: 30 - 200 kV ・分解能: 0.071 nm (200 kV), 0.11 nm (60 kV) ・分析機能: EDS, EELS ・収差補正装置（プローブ補正） ・遠隔操作利用可 |
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