環境対応型超高分解能走査透過型電子顕微鏡 (Environmental-adapted ultra-high-resolution scanning transmission electron microscope)
学内学外とも共用
マテリアル先端リサーチインフラ
| 設置機関 | 東京大学 |
|---|---|
| 研究科・学部 | |
| 設備分類 | 顕微鏡 > 透過電子顕微鏡 |
| 製造元 | 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.) |
| 型番 | JEM-ARM200F Cold FE |
| 設備名称 | 環境対応型超高分解能走査透過型電子顕微鏡 (Environmental-adapted ultra-high-resolution scanning transmission electron microscope) |
| 装置スペック | □ 主な仕様 ・ 加速電圧:200kV、80kV ・ 分解能：TEM格子像 0.10nm TEM粒子像 0.23nm STEM明視野格子像 0.136nm STEM暗視野格子像 0.10nm ・ 倍率：TEM像 50～2,000,000倍 STEM像 200～150,000,000倍 ・ 収差補正装置：照射系球面収差補正装置 組み込み ・ 検出器：エネルギー分散形X線分析装置 (SDD×2)、電子線エネルギー損失分光器（EELS）、軽元素対応像検出器、CCD検出器（2k×2k,4k×2k） ・試料2軸傾斜スライドカバーホルダー ・高温加熱通電ホルダー |
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