高分解能分析電子顕微鏡 (Transmission electron microscope)
学内学外とも共用
マテリアル先端リサーチインフラ
| 設置機関 | 東京大学 |
|---|---|
| 研究科・学部 | |
| 設備分類 | 顕微鏡 > 透過電子顕微鏡 |
| 製造元 | 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.) |
| 型番 | JEM-2010F |
| 設備名称 | 高分解能分析電子顕微鏡 (Transmission electron microscope) |
| 装置スペック | □ 主な仕様 （１）本体 加速電圧：80,100,120,160,200kV 電子線源：熱電界放射型 分解能：0.192nm（粒子像） 試料最大傾斜角：±20° 試料移動：モーター駆動 排気方式：スパッターイオン、油拡散ポンプ （２）画像記録 Gtan社 UltraScan （３）分析装置 ２）エネルギー分散型分光器（EDS） |
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