ハイコントラスト透過型電子顕微鏡 (High Contrast Transmission Electron Microscope)
学内学外とも共用
マテリアル先端リサーチインフラ
| 設置機関 | 東京大学 |
|---|---|
| 研究科・学部 | |
| 設備分類 | 顕微鏡 > 透過電子顕微鏡 |
| 製造元 | 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.) |
| 型番 | JEM-2010HC |
| 設備名称 | ハイコントラスト透過型電子顕微鏡 (High Contrast Transmission Electron Microscope) |
| 装置スペック | □ 主な仕様 （１）本体 加速電圧 ： 80、100、120、160、200kV 電子線源 ： 単結晶LaB6 試料最大傾斜角 ： ±30° 試料移動 ： モーター駆動(X、Y、Z) 排気方式 ： ターボ分子ポンプ(TMP) （２）画像記録 シートフィルムおよびデジタル画像 （３）分析機能：EDS |
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