クライオ透過型/透過走査型電子顕微鏡 (Cryo-TEM/STEM)
学内学外とも共用
マテリアル先端リサーチインフラ
| 設置機関 | 東京大学 |
|---|---|
| 研究科・学部 | |
| 設備分類 | 顕微鏡 > 透過電子顕微鏡 |
| 製造元 | 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.) |
| 型番 | JEM-2100F |
| 設備名称 | クライオ透過型/透過走査型電子顕微鏡 (Cryo-TEM/STEM) |
| 装置スペック | □ 主な仕様 ・ ショットキー型FE電子銃装備 ・ 分解能＜0.31nm ・ EDS、EELS検出器装備 ・ TEM/STEM 3次元トモグラフィ機能装備 ・ 極低温観察用クライオトランスファホルダ装備 ・ CCD検出器（4k×4k,1k×1k） ・加速電圧：200kV、120kV |
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