多機能電界放出型透過電子顕微鏡
学内学外とも共用
マテリアル先端リサーチインフラ
| 設置機関 | 東京大学 |
|---|---|
| 研究科・学部 | |
| 設備分類 | 顕微鏡 > 透過電子顕微鏡 |
| 製造元 | 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.) |
| 型番 | JEM-F200 |
| 設備名称 | 多機能電界放出型透過電子顕微鏡 |
| 装置スペック | □ 主な特長 最新のオペレーティングシステムを採用。電子顕微鏡、CMOSカメラ、EDS、EELSを1つのシステムで操作が可能。 □ 主な仕様 ・分解能：走査透過像 0.16nm,透過像(粒子像) 0.23nm ・倍率：走査透過像×100～×150,000,000 TEM像×500～×20,000,000 ・ 電子銃：冷陰極電界放出形電子銃搭載 加速電圧 200kV･80kV ・ 試料系：試料傾斜 X軸±27゜Y軸±30゜ ・ 分析：高感度のSDD検出器2本同時搭載、EELS検出器を装備 ・ 非暴露冷却ホルダー対応 |
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