X線回折 >
高輝度In-plane型X線回折装置 (XRD)
学内学外とも共用
マテリアル先端リサーチインフラ
| 設置機関 | 東京大学 |
|---|---|
| 研究科・学部 | |
| 設備分類 | X線回折 > |
| 製造元 | リガク (Rigaku Co.) |
| 型番 | SmartLab(9kW) |
| 設備名称 | 高輝度In-plane型X線回折装置 (XRD) |
| 装置スペック | □ 主な特長 ・ 高輝度Ｘ線源 及び In-Planeアームを搭載した試料水平配置高精度ゴニオメータを使用したＸ線回折装置。 ・ 粉末試料測定に適した集中法光学系，薄膜試料の測定に適している多層膜ミラーを用いた平行ビーム光学系によるＸ線反射率測定，逆格子マップ測定，ロッキングカーブ測定などを簡単なユニット交換で組み替えて利用することが可能。 ・ インプレーンアームの搭載により、極薄膜の評価や完全極点測定が可能。 □ 主な仕様 ・ X線源：9kW回転対陰極X線発生装置A/Cuターゲット ・ 光学系：集中法・多層膜平行ビーム法・薄膜高分解平行ビーム法・インプレーン光学系 ・ 検出器：HyPix-3000 |
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