X線回折 >
粉末X線回折装置 (XRD)
学内学外とも共用
マテリアル先端リサーチインフラ
| 設置機関 | 東京大学 |
|---|---|
| 研究科・学部 | |
| 設備分類 | X線回折 > |
| 製造元 | リガク (Rigaku Co.) |
| 型番 | SmartLab (3kW) |
| 設備名称 | 粉末X線回折装置 (XRD) |
| 装置スペック | □ 主な特長 ・ 粉末試料測定に適した集中法光学系，薄膜試料の測定に適している多層膜ミラーを用いた平行ビーム光学系。 ・ In-Planeアームを搭載した試料水平配置高精度ゴニオメータを使用したＸ線回折装置。 ・ 900℃までの高温測定用アタッチメントも用意している。 □ 主な仕様 ・ X線源：3 kW封入型Ｘ線管/Cuターゲット ・ 光学系：集中法・多層膜平行ビーム法・インプレーン光学系 ・ 検出器：シンチレーション検出器：1次元半導体検出器 ・SmartLab用AntonPaarDHS900アタッチメント |
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