超微量元素計測システム (SIMS)
学内学外とも共用
マテリアル先端リサーチインフラ
| 設置機関 | 東京大学 |
|---|---|
| 研究科・学部 | |
| 設備分類 | 表面分析 > SIMS |
| 製造元 | カメカ (Cameca) |
| 型番 | NanoSIMS 50L |
| 設備名称 | 超微量元素計測システム (SIMS) |
| 装置スペック | □主な用途 微小領域の分析、高空間分解能でのイメージング分析に優れた二次イオン質量分析装置。 □主な用途 ・ 一次イオン源：セシウムおよび酸素 ・最小ビーム径：50nm （セシウム） ・質量分析計：高性能二重収束型質量分析計 ・高感度、高質量分解能での元素・同位体測定が可能。 ・最大7種類の二次イオン像の同時検出ができる |
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