電界放出型 走査電子顕微鏡 (Field-Emission Scanning Electron Microscope)
学内学外とも共用
マテリアル先端リサーチインフラ
| 設置機関 | 早稲田大学 |
|---|---|
| 研究科・学部 | |
| 設備分類 | 顕微鏡 > 走査電子顕微鏡 |
| 製造元 | 株式会社 日立ハイテク (Hitachi High-Tech Corporation) |
| 型番 | S-4800 |
| 設備名称 | 電界放出型 走査電子顕微鏡 (Field-Emission Scanning Electron Microscope) |
| 装置スペック | 試料サイズ最大20mm角 セミインレンズ方式による高分解能（～x600k） EDAXによる元素分析 |
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