電界放出型 走査電子顕微鏡 (Field-Emission Scanning Electron Microscope)
学内学外とも共用
マテリアル先端リサーチインフラ
| 設置機関 | 早稲田大学 |
|---|---|
| 研究科・学部 | |
| 設備分類 | 顕微鏡 > 走査電子顕微鏡 |
| 製造元 | 株式会社 日立ハイテク (Hitachi High-Tech Corporation) |
| 型番 | S5500 |
| 設備名称 | 電界放出型 走査電子顕微鏡 (Field-Emission Scanning Electron Microscope) |
| 装置スペック | 試料サイズ 平面5.0mmX9.5mmX3.5mmH 断面2.0mmX6.0mmX5.0mmH 倍率 ～×2M (高倍率モード) |
この設備情報の修正依頼
掲載内容に不備がある場合、情報が古い場合などはこちらから修正の報告をお願いします。