デバイス >
高耐圧デバイス測定装置＋ 高耐圧プローバ (high votage semiconductor device analyzer)
学内学外とも共用
マテリアル先端リサーチインフラ
| 設置機関 | 早稲田大学 |
|---|---|
| 研究科・学部 | |
| 設備分類 | デバイス > |
| 製造元 | プローバ：長瀬産業株式会 (特注品） 測定装置：アジレント社製B1505A (NAGASE & CO., LTD.) |
| 型番 | プローバ：長瀬産業社製（特注品） 測定装置：アジレント社製B1505A |
| 設備名称 | 高耐圧デバイス測定装置＋ 高耐圧プローバ (high votage semiconductor device analyzer) |
| 装置スペック | 10K～600Kの真空環境下での高耐圧デバイス(2000V又は20A MAX)測定可能、25mmx25mm以下（測定範囲） 測定装置：アジレント社製B1505A 3000V までの電圧印加と高精度測定 最小パルス幅50 μs の 大電流モジュール（最大20 A） カーブトレーサ・モードでの デバイスのクイックチェック |
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