ダブル球面収差補正付透過型電子顕微鏡?(Double spherical aberration corrected transmission electron microscope (Cs-corrected TEM))
学内学外とも共用
マテリアル先端リサーチインフラ
| 設置機関 | 信州大学 |
|---|---|
| 研究科・学部 | |
| 設備分類 | 顕微鏡 > 透過電子顕微鏡 |
| 製造元 | 日本電子 |
| 型番 | JEM-2100Ｆ |
| 設備名称 | ダブル球面収差補正付透過型電子顕微鏡?(Double spherical aberration corrected transmission electron microscope (Cs-corrected TEM)) |
| 装置スペック | 球面収差補正装置： EM-Z07167T 2段つき 加速電圧：80kV(カーボンに特化した低加速電圧で運転中) 分析機能：EELS、EDS |
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