質量分析 >
飛行時間型二次イオン質量分析装置?(Time of flight secondary ion mass spectroscopy)
学内学外とも共用
マテリアル先端リサーチインフラ
| 設置機関 | 信州大学 |
|---|---|
| 研究科・学部 | |
| 設備分類 | 質量分析 > |
| 製造元 | TOF.SIMS5-ADSD-100?(ION-TOF) |
| 型番 | TOF.SIMS5-ADSD-100 |
| 設備名称 | 飛行時間型二次イオン質量分析装置?(Time of flight secondary ion mass spectroscopy) |
| 装置スペック | 高質量分解能パルス圧縮モード：最小スポット径600nm 高空間分解能モード：最小スポット径120nm バーストモード：質量分解能と空間分解能を両立 ?m2からcm2まで測定可能 深さ分解能 ： 1nm 以下 質量分解能>11,000 @29u (FWHM) |
この設備情報の修正依頼
掲載内容に不備がある場合、情報が古い場合などはこちらから修正の報告をお願いします。