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表面分析 > AES

オージェ電子顕微鏡?(Auger electron microscope)
学内学外とも共用 マテリアル先端リサーチインフラ

設置機関 信州大学
研究科・学部
設備分類 表面分析 > AES
製造元 日本電子
型番 JAMP-9510
設備名称 オージェ電子顕微鏡?(Auger electron microscope)
装置スペック FE電子銃 加速電圧 0.5~30kV 静電半球アナライザ
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