電界放出型走査電子顕微鏡?(Field-Emission Scanning Electron Microscope)
学内学外とも共用
マテリアル先端リサーチインフラ
| 設置機関 | 信州大学 |
|---|---|
| 研究科・学部 | |
| 設備分類 | 顕微鏡 > 走査電子顕微鏡 |
| 製造元 | 日立ハイテク?(Hitachi High-Tech) |
| 型番 | SU8000 |
| 設備名称 | 電界放出型走査電子顕微鏡?(Field-Emission Scanning Electron Microscope) |
| 装置スペック | 加速電圧：0.5 ～ 30 kV 倍率：低倍率モード20 ～ 2,000倍 高倍率モード100 ～ 800,000倍 分析機能：EDX付 |
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