ナノ物性測定用プローブ顕微鏡システム (Scanning probe microscope for measuring nano-region material property)
学内学外とも共用
マテリアル先端リサーチインフラ
| 設置機関 | 豊田工業大学 |
|---|---|
| 研究科・学部 | |
| 設備分類 | 顕微鏡 > 走査プローブ顕微鏡 |
| 製造元 | ブルカー (Bruker) |
| 型番 | Multimode顕微鏡 |
| 設備名称 | ナノ物性測定用プローブ顕微鏡システム (Scanning probe microscope for measuring nano-region material property) |
| 装置スペック | ・導電性（TUNA) ・表面電位、STM機能 ・原子、分子分解能 |
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