X線回折 >
薄膜X線回折装置?(X-Ray Diffraction System)
学内学外とも共用
マテリアル先端リサーチインフラ
| 設置機関 | 大阪大学 |
|---|---|
| 研究科・学部 | |
| 設備分類 | X線回折 > |
| 製造元 | リガク |
| 型番 | Ultima IV |
| 設備名称 | 薄膜X線回折装置?(X-Ray Diffraction System) |
| 装置スペック | 【特徴】 粉末試料、薄膜試料が測定可能な水平試料型X線回折装置です。 薄膜インプレーンスキャンによる面内構造解析が可能です。 試料交換、スリット等の交換も容易にできます。 【仕様】 定格出力：1.6kW(40kV,40mA) 試料ステージサイズ：10cmφ 2θ/θ、インプレーン測定が可能 |
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