走査型プローブ顕微鏡?(Scanning Probe Microscope)
学内学外とも共用
マテリアル先端リサーチインフラ
| 設置機関 | 大阪大学 |
|---|---|
| 研究科・学部 | |
| 設備分類 | 顕微鏡 > 走査プローブ顕微鏡 |
| 製造元 | 日立ハイテクサイエンス |
| 型番 | AFM5000/AFM5300E |
| 設備名称 | 走査型プローブ顕微鏡?(Scanning Probe Microscope) |
| 装置スペック | 【特徴】 AFM,c-AFM,STM,DFM,MFM,KFM,PRM,電流マッピング,SNDNなどが測定可能な走査型プローブ顕微鏡です。 温度制御、調湿制御機構を備えており、真空下での測定も可能です。 500ｍTの磁場が試料水平方向に印加可能です。 【仕様】 試料サイズ：15mmφ 温度制御：-120～300℃ 調湿制御：30～70％ 真空中測定：10E-4Paまで可能 磁場印加：試料水平方向に500ｍT |
この設備情報の修正依頼
掲載内容に不備がある場合、情報が古い場合などはこちらから修正の報告をお願いします。