高輝度放射光XAFSシステム (XAFS measuring station)
学内学外とも共用
マテリアル先端リサーチインフラ
| 設置機関 | 日本原子力研究開発機構 |
|---|---|
| 研究科・学部 | |
| 設備分類 | 加速器・放射光 > 放射光 |
| 製造元 | カスタム (Home-made) |
| 型番 | - |
| 設備名称 | 高輝度放射光XAFSシステム (XAFS measuring station) |
| 装置スペック | 試料中の特定元素の原子価や局所構造を決定 ・エネルギー範囲：4～72keV ・測定方法：通常の透過法／微量元素用の蛍光法、通常のStepScan／高速計測対応（QuickScan） ・試料：国際規制物資、RI・アクチノイド試料可 ・KBミラーによる数十μm程度の空間分解能 ・クライオスタットによる低温測定 |
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