コヒーレントX線回折イメージング装置 (Diffractometer for coherent X-ray diffraction imaging)
学内学外とも共用
マテリアル先端リサーチインフラ
| 設置機関 | 量子科学技術研究開発機構 |
|---|---|
| 研究科・学部 | |
| 設備分類 | 加速器・放射光 > 放射光 |
| 製造元 | HUBER社（ドイツ）ほか (Huber Diffraktionstechnik GmbH & Co. KG, etc.) |
| 型番 | なし（特別仕様） |
| 設備名称 | コヒーレントX線回折イメージング装置 (Diffractometer for coherent X-ray diffraction imaging) |
| 装置スペック | ・微小結晶粒（粒径：数十nm～数μm）を対象に、形状だけでなく、電子顕微鏡では観察が困難な内部構造（歪分布や欠陥、空洞、ドメイン等）を非破壊・非接触で３次元可視化できる装置。 ・硬X線領域のブラッグ反射を用いたコヒーレントX線回折イメージング法を利用する。 ・各種ナノ材料の評価をサポート。 ・試料温度は室温～1100℃の範囲で設定可能。その他の試料環境制御は要相談。 |
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