電界放出形透過型電子顕微鏡
学内学外とも共用
マテリアル先端リサーチインフラ
| 設置機関 | 分子科学研究所 |
|---|---|
| 研究科・学部 | 機器センター |
| 設備分類 | 顕微鏡 > 透過電子顕微鏡 |
| 製造元 | 日本電子 |
| 型番 | JEM-2100F |
| 設備名称 | 電界放出形透過型電子顕微鏡 |
| 装置スペック | 加速電圧200kVで、TEM像、STEM像を観察。X線分析装置（EDS）による元素分析、組成マップの測定が可能。 加速電圧 200kV 分解能 0.23nm（粒子像）、0.1nm（格子像） 倍率 X2,000 ～ X1,500,000 試料 3mmφ以内 |
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