走査プローブ顕微鏡 (AFM)
学内学外とも共用
マテリアル先端リサーチインフラ
| 設置機関 | 分子科学研究所 |
|---|---|
| 研究科・学部 | 機器センター |
| 設備分類 | 顕微鏡 > 走査プローブ顕微鏡 |
| 製造元 | Bruker |
| 型番 | Dimension XR Icon NanoE, NanoEC |
| 設備名称 | 走査プローブ顕微鏡 (AFM) |
| 装置スペック | 形状、機械特性、電気・電子特性、磁気特性等の計測や電気化学特性計測。雰囲気制御（温度・湿度・ガス・液中）、光照射、電気化学反応下、磁場印加等も対応 |
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