機能性材料バンド構造顕微分析システム
学内学外とも共用
マテリアル先端リサーチインフラ
| 設置機関 | 分子科学研究所 |
|---|---|
| 研究科・学部 | 機器センター |
| 設備分類 | 表面分析 > XPS |
| 製造元 | Scienta Omicron |
| 型番 | DA30 |
| 設備名称 | 機能性材料バンド構造顕微分析システム |
| 装置スペック | 静電半球型アナライザーを用いた機能性材料の価電子バンド構造測定システム。ディフレクターを使用することで2次元波数空間マッピングを行うことが可能。薄膜作製用真空チェンバー、試料表面処理チェンバー（電子衝撃加熱、通電加熱、Ar+スパッタが可能）、電子線回折装置、劈開機構を利用することができるため、 様々な機能性材料の測定に対応。 光電子分析器 エネルギー分解能1meV以下、 角度精度0.1度以下、空間分解能 10ミクロン以下 真空紫外光源 希ガス共鳴線（主として、21.218 eV, 40.814 eV) 試料冷却機能 温度範囲 8-300K 真空チェンバー 測定槽真空度7x10-9Pa以下 |
この設備情報の修正依頼
掲載内容に不備がある場合、情報が古い場合などはこちらから修正の報告をお願いします。