超高分解能透過電子顕微鏡 (Transmission Electron Microscope)
学内学外とも共用
マテリアル先端リサーチインフラ
| 設置機関 | 東北大学 |
|---|---|
| 研究科・学部 | |
| 設備分類 | 顕微鏡 > 透過電子顕微鏡 |
| 製造元 | 日本電子 (JEOL) |
| 型番 | JEM-ARM200F |
| 設備名称 | 超高分解能透過電子顕微鏡 (Transmission Electron Microscope) |
| 装置スペック | ・加速電圧 200 kV/80 kV ・球面収差補正装置（照射系、結像系） ・EDS分析（検出器＝100 mm2) ・EELS分光器 エネルギー分解能 0.35 eV ・高傾斜一軸ホルダー |
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