実動環境対応物理分析電子顕微鏡 (Real working environment physical characterization TEM)
学内学外とも共用
マテリアル先端リサーチインフラ
| 設置機関 | 物質・材料研究機構 |
|---|---|
| 研究科・学部 | |
| 設備分類 | 顕微鏡 > 透過電子顕微鏡 |
| 製造元 | 日本電子 (JEOL) |
| 型番 | JEM-ARM200F-G |
| 設備名称 | 実動環境対応物理分析電子顕微鏡 (Real working environment physical characterization TEM) |
| 装置スペック | ・照射系レンズ収差補正、結像系レンズ収差補正 ・ショットキーFEG ・加速電圧: 80, 120, 200 kV ・TEM, STEM, EDS, EELS, 電子線ホ口グラフイー, 電子線トモグラフィー |
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