走査型プローブ顕微鏡 [Jupiter XR]
学内学外とも共用
マテリアル先端リサーチインフラ
| 設置機関 | 物質・材料研究機構 |
|---|---|
| 研究科・学部 | |
| 設備分類 | 顕微鏡 > 走査プローブ顕微鏡 |
| 製造元 | オックスフォード・インストゥルメンツ (Oxford Instruments) |
| 型番 | Jupiter XR |
| 設備名称 | 走査型プローブ顕微鏡 [Jupiter XR] |
| 装置スペック | ・用途：ナノ構造の計測 ・評価・測定モード：形状測定、メカニカル測定、電気測定、磁気測定、等 ・走査範囲：90um ・ステージ可動範囲：200mm角 ・最大試料サイズ：φ8inch |
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