設置機関 | 東海国立大学機構・名古屋大学 |
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研究科・学部 | 工学研究科 |
設備分類 | 顕微鏡 > 走査プローブ顕微鏡 |
製造元 | 株式会社 日立ハイテクノロジーズ |
型番 | AFM5100N/AFM5000II |
設備名称 | 原子間力顕微鏡 |
装置スペック | 検出系:光てこ方式、測定モード:AFM/DFM/PM/FFM、分解能:垂直0.01nm~/面内0.2nm~、走査範囲:面内20μm/垂直1.5μm、最大試料サイズ:φ35mm/厚さ10mm、環境:大気 |
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