研究設備検索ツール
お問い合わせ・技術相談
研究設備検索ツール
研究設備検索ツール
  >  
  >  
723 件
< 前へ 123456789…29 次へ >
名称 機関 メーカー 共用範囲
SU8000
超高分解能電界放出型走査電子顕微鏡
九州大学
中央分析センター
日立ハイテクノロジーズ
学内学外とも共用
SU3500
低真空分析走査電子顕微鏡
九州大学
中央分析センター
日立ハイテクノロジーズ
学内学外とも共用
JSM-6701F
電界放出形走査電子顕微鏡
九州大学
中央分析センター
日本電子
学内学外とも共用
SmartLab
全自動水平型多目的X線回折装置
九州大学
中央分析センター
リガク
学内学外とも共用
EDX-7000
エネルギー分散型蛍光X線分析装置
九州大学
中央分析センター
島津製作所
学内学外とも共用
SKYSCAN1172
高分解能3次元X線CTシステム
九州大学
中央分析センター
Bruker
学内学外とも共用
FT/IR-620
フーリエ変換赤外分光光度計
九州大学
中央分析センター
日本分光
学内学外とも共用
IRT-7200
マルチチャンネル赤外顕微鏡システム
九州大学
中央分析センター
日本分光
学内学外とも共用
ARAMIS
顕微レーザーラマン分光装置
九州大学
中央分析センター
堀場製作所
学内学外とも共用
Auto SE
自動薄膜計測装置
九州大学
中央分析センター
堀場製作所
学内学外とも共用
Agilent7500c
誘導結合プラズマ質量分析装置
九州大学
中央分析センター
アジレントテクノロジー
学内学外とも共用
Agilent7700x
誘導結合プラズマ質量分析装置
九州大学
中央分析センター
アジレントテクノロジー
学内学外とも共用
TG/DTA7300
示差熱熱重量同時測定装置
九州大学
中央分析センター
日立ハイテクサイエンス
学内学外とも共用
X-DSC7000
高感度示差走査熱分析装置
九州大学
中央分析センター
日立ハイテクサイエンス
学内学外とも共用
DSC6300
高温型示差走査熱分析装置
九州大学
中央分析センター
日立ハイテクサイエンス
学内学外とも共用
DimensionIcon
走査型プローブ顕微鏡
九州大学
中央分析センター
Bruker
学内学外とも共用
OLS4500(OLS4000 reuse)
3D測定レーザー顕微鏡
九州大学
中央分析センター
オリンパス
学内学外とも共用
IM-3000
フラットミリング装置
九州大学
中央分析センター
日立ハイテクノロジーズ
学内学外とも共用
E-3500
イオンミリング装置
九州大学
中央分析センター
日立ハイテクノロジーズ
学内学外とも共用
JFC-1600
イオンコーティング装置
九州大学
中央分析センター
日本電子
学内学外とも共用
MC1000
イオンスパッタ
九州大学
中央分析センター
日立ハイテクノロジーズ
学内学外とも共用
SC-701C
カーボンコータ
九州大学
中央分析センター
サンユー電子
学内学外とも共用
HPC-1SW
オスミウムコータ
九州大学
中央分析センター
真空デバイス
学内学外とも共用
JNM-ECZ400
超伝導核磁気共鳴吸収装置
九州大学
中央分析センター
日本電子
学内学外とも共用
DSC6100
超高感度示差走査熱量計
九州大学
中央分析センター
セイコーインスツルメンツ
学内学外とも共用
< 前へ 123456789…29 次へ >
MENU
設備ネット
お問い合わせ・技術相談
自然科学研究機構 分子科学研究所 機器センター
電話番号:0564-55-7457
MAIL : ic-pub_es@ims.ac.jp
個人情報保護方針|サイトポリシー
Copyright © 2022 Institute for Molecular Science All rights reserved.