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名称 機関 メーカー 共用範囲
SSQE-2
クライオ共焦点顕微鏡
東京科学大学
ナノ構造造形支援事業
竹田理化工業
学内学外とも共用
JSM-7001F
分析装置付き走査型電子顕微鏡
東京科学大学
ナノ構造造形支援事業
日本電子
学内学外とも共用
S-4500
走査型電子顕微鏡
東京科学大学
ナノ構造造形支援事業
日立製作所
学内学外とも共用
S5200
走査型電子顕微鏡
東京科学大学
ナノ構造造形支援事業
日立製作所
学内学外とも共用
VHX-1000
デジタル顕微鏡
東京科学大学
ナノ構造造形支援事業
キーエンス
学内学外とも共用
VHX-D510
低真空 SEM
東京科学大学
ナノ構造造形支援事業
キーエンス
学内学外とも共用
JIB-4501
FIB-SEMデュアルビーム加工観察装置
東京科学大学
ナノ構造造形支援事業
日本電子
学内学外とも共用
IBE-KDC75
イオンビームミリング装置
東京科学大学
ナノ構造造形支援事業
伯東
学内学外とも共用
L150
光学顕微鏡
東京科学大学
先端研究基盤共用促進事業
ニコン
学内学外とも共用
NX7-SFM
原子間力顕微鏡システム(AFM)
東京科学大学
先端研究基盤共用促進事業
Park・Systems
学内学外とも共用
SCIOS
複合ビーム加工観察分析装置FIB-SEM
東京科学大学
オープンファシリティセンター
サーモフィッシャーサイエンティフィック
学内のみ
JCM7000
走査電子顕微鏡
東京科学大学
オープンファシリティセンター
日本電子
学内のみ
LSM710
共焦点蛍光顕微鏡システム (Confocal Laser Scanning Fluorescence Microscope)
電気通信大学
Carl Zweiss (Carl Zweiss)
学内学外とも共用
JEM-2100F
透過型電子顕微鏡 (Transmission electron microscope)
電気通信大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
SU 5000
ショットキー走査型電子顕微鏡
電気通信大学
日立
学内学外とも共用
NB-5000
集束イオン/電子ビーム加工観察装置?(Focused Ion Beam Scanning Electron Microscopy)
早稲田大学
株式会社 日立ハイテク (Hitachi High-Tech Corporation)
学内学外とも共用
S-4800
電界放出型 走査電子顕微鏡 (Field-Emission Scanning Electron Microscope)
早稲田大学
株式会社 日立ハイテク (Hitachi High-Tech Corporation)
学内学外とも共用
SU8240
電界放出型 走査電子顕微鏡 (Field-Emission Scanning Electron Microscope)
早稲田大学
株式会社 日立ハイテク (Hitachi High-Tech Corporation)
学内学外とも共用
S5500
電界放出型 走査電子顕微鏡 (Field-Emission Scanning Electron Microscope)
早稲田大学
株式会社 日立ハイテク (Hitachi High-Tech Corporation)
学内学外とも共用
FLUOVIEW FV3000
共焦点レーザー走査型顕微鏡
早稲田大学
株式会社 エビデント (EVIDENT)
学内学外とも共用
JEM-ARM200F
原子分解能走査透過型電子顕微鏡 (STEM)
北陸先端科学技術大学院大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
JEM-2100Plus
透過電子顕微鏡 (TEM)
北陸先端科学技術大学院大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
Regulus8230
低加速走査電子顕微鏡 (FE-SEM)
北陸先端科学技術大学院大学
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
AFM5000II SPA-400
大気中原子間力顕微鏡 (AFM)
北陸先端科学技術大学院大学
日立ハイテクサイエンス (Hitachi High-Tech Science)
学内学外とも共用
MR-GFIS
電界電離ガスイオン源搭載集束イオンビーム装置 (GFIS-FIB)
北陸先端科学技術大学院大学
日立ハイテクサイエンス (Hitachi High-Tech Science)
学内学外とも共用
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電話番号:0564-55-7457
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