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名称 機関 メーカー 共用範囲
Quantes
硬X線光電子分光分析装置(HAX-PES/XPS)
物質・材料研究機構
アルバック・ファイ(株) (ULVAC-PHI)
学内学外とも共用
720 ICP-OES
誘導結合プラズマ発光分析装置(マルチ型) (Inductively Coupled Plasma Optical Emission Spectrometer (ICP-OES))
物質・材料研究機構
アジレント・テクノロジー(株) (Agilent Technologies Japan, Ltd.)
学内学外とも共用
SmartLab 9 kW
多目的X線回折装置_Cu_SSL
物質・材料研究機構
(株)リガク (Rigaku Corporation)
学内学外とも共用
PHI TRIFT V nanoTOF
飛行時間型二次イオン質量分析装置 (Time-of-flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS))
物質・材料研究機構
アルバック・ファイ(株) (ULVAC-PHI)
学内学外とも共用
ONH836 CS844
酸素窒素水素分析装置、炭素硫黄分析装置 (Oxygen/Nitrogen/Hydrogen Analyzer Carbon/Sulfer Analyzer)
物質・材料研究機構
LECOジャパン合同会社 (LECO JAPAN CORPORATION)
学内学外とも共用
JXA-8500F
電界放出形電子線プローブマイクロアナライザー装置 (Field Emission Electron Probe Micro-Analyzer (FE-EPMA))
物質・材料研究機構
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
JAMP-9500F
走査型オージェ電子分光分析装置 (Scanning Auger Electron Microprobe (CHA Type AES))
物質・材料研究機構
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
VariMax DW AFC11 with Pilatus
2波長低温単結晶X線回折装置_NSC
物質・材料研究機構
リガク
学内学外とも共用
SmartLab 9 kW with cryostat/furnace
温度可変型粉末X線回折装置_Cu1_NTS
物質・材料研究機構
リガク
学内学外とも共用
SmartLab3
高速・高感度型粉末X線回折装置_Cu_ASC_NS3
物質・材料研究機構
リガク
学内学外とも共用
MiniFlex600_Cu
卓上型粉末回折計_Cu_ASC_NC1
物質・材料研究機構
リガク
学内学外とも共用
MiniFlex600_Cu
卓上型粉末回折計_Cu_ASC_NC2
物質・材料研究機構
リガク
学内学外とも共用
MiniFlex600_Cr
卓上型粉末回折計_Cr_SCR
物質・材料研究機構
リガク
学内学外とも共用
MiniFlex600_Cu
卓上型X線回折計_Cu_SMF?(pXRD_Cu_SMF)
物質・材料研究機構
リガク
学内学外とも共用
SmartLab
薄膜X線回折装置_Cu (TF-XRD_Cu)
物質・材料研究機構
リガク
学内学外とも共用
TG/DTA 6200, X-DSC7000
熱分析装置 (TG/DTA+DSC)
物質・材料研究機構
日立ハイテクサイエンス
学内学外とも共用
ELSZ-2000ZS
ゼータ電位&粒径測定装置
物質・材料研究機構
大塚電子
学内学外とも共用
IRAffinity-1s/AIM-9000
フーリエ変換赤外分光光度計
物質・材料研究機構
島津製作所
学内学外とも共用
V-770
紫外可視近赤外分光計
物質・材料研究機構
日本分光
学内学外とも共用
FP-8500DS
分光蛍光光度計
物質・材料研究機構
日本分光
学内学外とも共用
Fluorolog-3
蛍光分光計
物質・材料研究機構
堀場製作所
学内学外とも共用
FT/IR-6700
フーリエ変換赤外分光計
物質・材料研究機構
日本分光
学内学外とも共用
DSC200F3
中低温示差熱分析装置
物質・材料研究機構
ネッチ (NETZSCH)
学内学外とも共用
QuanteraSXM
X線光電子分光分析装置
物質・材料研究機構
アルバック・ファイ
学内学外とも共用
JSM-7001F
ショットキー電界放出型走査電子顕微鏡
物質・材料研究機構
日本電子
学内学外とも共用
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電話番号:0564-55-7457
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