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名称 機関 メーカー 共用範囲
JEM-ARM200CF
低加速電圧対応原子分解能走査型透過電子顕微鏡 (Low-voltage atomic-resolution Scanning Transmision Electron Microscopy)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JEM-ARM200F Cold FE
軽元素対応型超高分解能走査透過型電子顕微鏡(Cs-STEM) (Light elements visible ultra-high-resolution scanning transmission electron microscope)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JEM-ARM200F Cold FE
超高分解能透過型電子顕微鏡(Cs-HRTEM) (Ultra-high-resolution transmission electron microscope)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JEM-ARM200F Cold FE
環境対応型超高分解能走査透過型電子顕微鏡 (Environmental-adapted ultra-high-resolution scanning transmission electron microscope)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JEM-ARM200F Thermal FE STEM
原子分解能元素マッピング構造解析装置 ( Atomic resolution element mapping structure analyzer)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JEM-2800
ハイスループット電子顕微鏡 (High Throughput Electron Microscope)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JEM-2010F
高分解能分析電子顕微鏡 (Transmission electron microscope)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JEM-2010HC
ハイコントラスト透過型電子顕微鏡 (High Contrast Transmission Electron Microscope)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JEM-2100F
クライオ透過型/透過走査型電子顕微鏡 (Cryo-TEM/STEM)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JEM-1400
有機材料ハイコントラスト透過型電子顕微鏡 (Bio-TEM)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JEM-F200
多機能電界放出型透過電子顕微鏡
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JSM-7500FA
低損傷走査型分析電子顕微鏡 (Low Damage Field Emission Scanning Electron Microscope)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JSM-7800F Prime
高分解能走査型分析電子顕微鏡 (Field Emission Scanning Electron Microscope)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JSM-7000F
高分解能走査型電子顕微鏡 (Field Emission Scanning Electron Microscope)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JSM-6510LA
低真空走査型電子顕微鏡 (Low-vacuum Scannning Electron Microscope)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JSM-IT800SHL
高分解能走査型分析電子顕微鏡
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
XVision200TB
CADデータ連動3次元機能融合デバイス評価用前処理システム (Preprocessing system for device evaluation that integrates 3D functions linked with CAD data)
東京大学
日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
JEOL SM-090010JEOL SM-090020
クロスセクションポリッシャー(CP) (Cross Section Polisher)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
EM09100IS
イオンスライサー (Ion slicer)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JIB-PS500i
集束イオンビーム加工観察装置
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
PIPS II
TEM用ハイスループットイオン研磨システム
東京大学
gatan
学内学外とも共用
IB-19520CCP
大気非暴露対応冷却クロスセクションポリッシャ
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
VariMax Dual
無機微小結晶構造解析装置 (X-ray Single Crystal Diffractometer)
東京大学
リガク (Rigaku Co.)
学内学外とも共用
SmartLab(9kW)
高輝度In-plane型X線回折装置 (XRD)
東京大学
リガク (Rigaku Co.)
学内学外とも共用
SmartLab (3kW)
粉末X線回折装置 (XRD)
東京大学
リガク (Rigaku Co.)
学内学外とも共用
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電話番号:0564-55-7457
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