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名称 機関 メーカー 共用範囲
JCM-6000Plus
卓上走査電子顕微鏡
九州大学
システム情報科学研究院 情報エレクトロニクス部門
日本電子
部局内のみ
ECLIPSE LV100ND
工業用顕微鏡
九州大学
システム情報科学研究院 情報エレクトロニクス部門
ニコン
部局内のみ
BX-51
光学顕微鏡
九州大学
システム情報科学研究院 情報エレクトロニクス部門
オリンパス
学内のみ
MM-400
測長顕微鏡
九州大学
システム情報科学研究院 情報エレクトロニクス部門
ニコン
学内学外とも共用
VK-9710
3Dレーザー顕微鏡
九州大学
システム情報科学研究院 情報エレクトロニクス部門
キーエンス
学内学外とも共用
AFM5000II
走査型プローブ顕微鏡
九州大学
システム情報科学研究院 情報エレクトロニクス部門
日立ハイテク
学内学外とも共用
TM4000Plus/EDX
日立卓上顕微鏡TM4000Plus/EDXシステム
九州大学
システム情報科学研究院 情報エレクトロニクス部門
日立ハイテクノロジーズ
学内のみ
S neox
3D測定顕微鏡
九州大学
システム情報科学研究院 Next GLP共同研究部門
Sensofar
部局内のみ
VN8000
ナノスケールハイブリッド顕微鏡
九州大学
システム情報科学研究院 電気システム工学部門
キーエンス
学内学外とも共用
和周波発生(SFG)分光・顕微鏡システム
九州大学
工学研究院 応用化学部門(機能)田中研究室
東京インスツルメンツ
学内のみ
JEM-2010
透過型電子顕微鏡(JEM-2010)
九州大学
システム情報科学研究院 情報エレクトロニクス部門
日本電子
学内学外とも共用
ContourGT-K
3次元白色光干渉型顕微鏡
九州大学
システム情報科学研究院 情報エレクトロニクス部門
Bruker社
学内学外とも共用
Helios Hydra
キセノンプラズマ集束イオンビーム加工・走査電子顕微鏡複合機
九州大学
総理工機器共同利用機構
サーモフィッシャーサイエンティフィック
学内学外とも共用
LSM900 with Airyscan2
共焦点レーザー顕微鏡LSM900 with Airyscan2
九州大学
生体防御医学研究所
カールツァイス
学内のみ
AX-NiE/NS
正立型共焦点レーザー蛍光顕微鏡システム
九州大学
歯学研究院 共同利用委員会
ニコン
部局内のみ
Tecnai Polara
クライオ電子顕微鏡
九州大学
生体防御医学研究所 先端研究開発室
サーモフィッシャー
学内学外とも共用
TECNAI20
汎用透過型電子顕微鏡
九州大学
生体防御医学研究所 先端研究開発室
サーモフィッシャー
学内学外とも共用
JSM-IT700HR
走査電子顕微鏡
九州大学
先導物質化学研究所 物質機能評価センター
日本電子
学内学外とも共用
JSM-IT800
電界放出形走査電子顕微鏡(JSM-IT800)
九州大学
中央分析センター
日本電子
学内学外とも共用
JEM-ARM300F2
新高分解能電子顕微鏡
九州大学
超顕微解析研究センター
日本電子
学内学外とも共用
JSM-IT700HR
走査電子顕微鏡(JSM-IT700HR)
九州大学
中央分析センター
日本電子
学内学外とも共用
Velocity
電子線後方散乱結晶方位解析装置
九州大学
中央分析センター
TSLソリューションズ
学内学外とも共用
Helios 5 UX DualBeam
イオンビーム・電子ビーム複合型精密加工分析装置
九州大学
超顕微解析研究センター
サーモフィッシャーサイエンティフィック
学内学外とも共用
AFM100Plus
環境制御型走査型プローブ顕微鏡AFM100Plus(SPM)
九州大学
中央分析センター
日立ハイテク
学内学外とも共用
JSM-IT500LA
低真空分析走査電子顕微鏡
九州大学
比較社会文化研究院
日本電子
学内学外とも共用
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電話番号:0564-55-7457
MAIL : ic-pub_es@ims.ac.jp
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