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名称 機関 メーカー 共用範囲
JED-2300(EDS)/IB-Z10053T3DEBS(EBSD)
複合ビーム加工観察装置(FIB-SEM)EDS・EBSDオプション
北海道大学
工学部(ナノ・マイクロマテリアル分析研究室)
日本電子
学内学外とも共用
STM/AFM,VT-STM
超高真空STM・スピン偏極STM装置
北海道大学
情報科学研究院
オミクロン
学内学外とも共用
Titan3 G2 60-300
高分解能3次元構造評価装置
北海道大学
工学部(超高圧電子顕微鏡研究室Titan)
日本FEI
学内学外とも共用
JEM-ARM200F
収差補正走査型透過電子顕微鏡
北海道大学
電子科学研究所
日本電子
学内学外とも共用
ERA-8000FE
電子線三次元粗さ解析装置
北海道大学
情報科学研究院
エリオニクス
学内学外とも共用
NanoNavi Station SPA300
走査型プローブ顕微鏡
北海道大学
情報科学研究院
エスアイアイ・ナノテクノロジー製
学内学外とも共用
JAFM-4500XT
超高真空AFM
北海道大学
情報科学研究院
日本電子
学内学外とも共用
SU8230
超高分解能走査型電子顕微鏡
北海道大学
電子科学研究所
日立ハイテクノロジーズ
学内学外とも共用
VK-9700/9710
レーザー顕微鏡
北海道大学
電子科学研究所
キーエンス
学内学外とも共用
PIPSII model 695
精密イオンミリングシステム
北海道大学
電子科学研究所
Gatan
学内学外とも共用
JEM-9320FIB
集束イオンビーム加工観察装置
北海道大学
工学部(超高圧電子顕微鏡研究室)
日本電子
学内学外とも共用
JEM-ARM200F NEOARM
量子・電子制御ナノマテリアル顕微物性測定装置
北海道大学
工学部(超高圧電子顕微鏡研究室)
日本電子
学内学外とも共用
JSM7200F
ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡(FE-SEM)
北海道大学
工学部(ナノ・マイクロマテリアル分析研究室)
日本電子
学内学外とも共用
LEXT OLS4000
3D測定レーザ顕微鏡
公立千歳科学技術大学
オリンパス (Olympus)
学内学外とも共用
BX51 DP73
蛍光顕微鏡
公立千歳科学技術大学
オリンパス (Olympus)
学内学外とも共用
MultiMode 8J
走査型プローブ顕微鏡 (SPM)
公立千歳科学技術大学
ブルカー (Bruker)
学内学外とも共用
TM4000PlusII
走査型電子顕微鏡(SEM)
公立千歳科学技術大学
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
JSM-7800F
電界放出形走査電子顕微鏡(FE-SEM)
公立千歳科学技術大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
H-7600
透過型電子顕微鏡(TEM)
公立千歳科学技術大学
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
ULTRACUT UCT
ミクロトーム/クライオミクロトーム
公立千歳科学技術大学
ライカ マイクロシステムズ (Leica Microsystems)
学内学外とも共用
IB-09010CP
断面試料作製装置(クロスセクションポリッシャ)
公立千歳科学技術大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
Helios600i
微細加工システム FIB/SEMデュアルビームシステム
東北大学
産学連携先端材料研究開発センター
FEI Electron Optics
学内学外とも共用
H-7650
透過電子顕微鏡
東北大学
農学研究科
日立
学内学外とも共用
SU8000
走査電子顕微鏡(エネルギー分散型分析装置付)
東北大学
農学研究科
EDAX,日立
学内学外とも共用
LSM 710
共焦点レーザースキャン顕微鏡
東北大学
生命科学研究科
Carl-Zeiss
学内学外とも共用
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電話番号:0564-55-7457
MAIL : ic-pub_es@ims.ac.jp
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