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名称 機関 メーカー 共用範囲
JAMP-9500F
電界放出型オージェ電子分光装置(FE-AES)
名古屋工業大学
産学官金連携機構
日本電子
学内学外とも共用
PHI Quantes
走査型デュアルX線光電子分光分析装置(XPS)
名古屋工業大学
産学官金連携機構
アルバック・ファイ
学内学外とも共用
PHI TRIFTV nanoTOF
飛行時間型2次イオン質量分析装置(TOF-SIMS)
名古屋工業大学
産学官金連携機構
アルバック・ファイ
学内学外とも共用
M-probe
X線光電子分光装置
名古屋工業大学
産学官金連携機構
Surface Science Instrument
学内のみ
Quantera SXM-GS
走査型X線光電子分光分析装置
東海国立大学機構・岐阜大学
アルバック・ファイ
学内学外とも共用
PHI5000VersaProbe?
多機能走査型X線光電子分光分析装置 (multi-functional scanning X-ray photoelectron spsctroscopy (XPS))
奈良先端科学技術大学院大学
アルバックーファイ (ULVAC-PHI)
学内学外とも共用
AC-3
大気中光電子分光装置 (Photoemission Yield Spectroscopy in Air)
奈良先端科学技術大学院大学
理研計器 (Riken Keiki)
学内学外とも共用
JXA8230
電子プローブマイクロアナライザー
岡山大学
理学部
日本電子
学内学外とも共用
IMS-5F外
二次イオン質量分析計
岡山大学
惑星物質研究所
カメカ
学内学外とも共用
JXA-8530F
電界放出型電子プローブマイクロアナライザー
岡山大学
惑星物質研究所
日本電子
学内学外とも共用
IMS 1280-HR
二次イオン質量分析計
岡山大学
惑星物質研究所
カメカ
学内学外とも共用
JPS-9030
X線光電子分光装置
岡山大学
異分野基礎科学研究所
日本電子
学内学外とも共用
JXA-IHP200F外
軟X線分光計付きフィールドエミッション電子プローブマイクロアナライザ
岡山大学
惑星物質研究所
日本電子
学内学外とも共用
JXA-IHP200F外
軟X線分光計付きフィールドエミッション電子プローブマイクロアナライザ
岡山大学
惑星物質研究所
日本電子
学内学外とも共用
SIMS6650
二次イオン質量分析装置?(SIMS)
広島大学
アルバックファイ?(ULVAC-PHI, Inc.)
学内学外とも共用
ESCA-3400
X線光電子分光装置(XPS)?(X-ray photoelectron spectroscopy)
広島大学
クレイトスアナリティカル?()
学内学外とも共用
AXIS-ULTRA
電子状態測定システム
九州大学
マテリアル先端リサーチインフラ
島津製作所
学内学外とも共用
AXIS-ULTRA(AXIS-165 reuse)
X線光電子分光分析装置
九州大学
中央分析センター
島津/KRATOS製作所
学内学外とも共用
ATOMIKA SIMS 4000
動的二次イオン質量分析装置
九州大学
工学研究院 機能組織化学
Analysetechnik GmbH
学内学外とも共用
ESCA-3400
X線光電子分光分析装置
九州大学
理学研究院 化学部門
島津製作所
部局内のみ
K-Alpha
X線光電子分光装置
九州大学
歯学研究院 生体材料学
米国Thermo Fisher Scientific
学内のみ
JXA-8530F
電界放出型電子線マイクロアナライザ
九州大学
比較社会文化研究院
日本電子
学内学外とも共用
JAMP-9500
オージェ電子分光装置
九州大学
システム情報科学研究院 情報エレクトロニクス部門
JEOL
学内学外とも共用
APEX ESCA
X線光電子分光分析装置
九州大学
先導物質化学研究所 物質機能評価センター
ULVAC-PHI
学内学外とも共用
JAMP-9500F
AES
九州大学
システム情報科学研究院 情報エレクトロニクス部門
JEOL
学内学外とも共用
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電話番号:0564-55-7457
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