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名称 機関 メーカー 共用範囲
JEOL SM-090010JEOL SM-090020
クロスセクションポリッシャー(CP) (Cross Section Polisher)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
EM09100IS
イオンスライサー (Ion slicer)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JIB-PS500i
集束イオンビーム加工観察装置
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
PIPS II
TEM用ハイスループットイオン研磨システム
東京大学
gatan
学内学外とも共用
IB-19520CCP
大気非暴露対応冷却クロスセクションポリッシャ
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JEM-ARM1250
原子直視型超高圧電子顕微鏡 (Ultra-high voltage electron microscope)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
EM UC7
ウルトラミクロトーム (Ultramicrotome)
東京大学
ライカバイオシステムズ? (Leica Microsystems K.K.)
学内学外とも共用
IB15930CP
クロスセクションポリッシャー (Cross Section Polisher)
東京大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
CADE-4T
カーボンコーター (Carbon coater )
東京大学
明和フォーシス (Meiwafosis )
学内学外とも共用
PECS
電子線顕微鏡観察用コーター (Coater for SEM analysis)
東京大学
Gatan
学内学外とも共用
TM-3030Plus
簡易電子顕微鏡 (Tabletop SEM)
東京大学
日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
Regulus 8230
高精細電子顕微鏡 (Ultra-high Resolution Scanning Electron Microscope (SEM))
東京大学
日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
JSM-6610LV Oxford X-max50 + Energy 250
電子顕微鏡 (Scanning Electron Microscope (SEM))
東京大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
SPA400+SPI4000
小型原子間力顕微鏡 (Atomin Force Microscope (AFM))
東京大学
日立ハイテクサイエンス (Hitachi High-Tech Science)
学内学外とも共用
L-trace II
走査型プローブ顕微鏡 (Scanning Probe Microscope)
東京大学
日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
Dimension ICON
大面積走査プローブ顕微鏡Dimension ICON
東京大学
ブルカージャパン
学内学外とも共用
HLA-2
ハンディラップ
東京科学大学
オープンファシリティセンター
日本電子
学内のみ
SU9000
インレンズ式電界放出形走査電子顕微鏡
東京科学大学
オープンファシリティセンター
日立
学内のみ
EM UC7/FC7
ウルトラミクロトーム/クライオトーム
東京科学大学
オープンファシリティセンター
ライカマイクロシステムズ
学内のみ
CP,CPmk2
イオンビームクロスセクションポリッシャ
東京科学大学
オープンファシリティセンター
日本電子
学内のみ
JEE-420T
電子顕微鏡用真空蒸着装置
東京科学大学
オープンファシリティセンター
日本電子
学内のみ
H-7650 Zero.A
透過型電子顕微鏡
東京科学大学
オープンファシリティセンター
日立ハイテクノロジーズ
学内のみ
JEM-2010F
電界放射型透過型電子顕微鏡
東京科学大学
オープンファシリティセンター
日本電子
学内のみ
JSM-7500F
電界放射型走査電子顕微鏡
東京科学大学
オープンファシリティセンター
日本電子
学内のみ
NeocPro
オスミウムコータ
東京科学大学
オープンファシリティセンター
メイワフォーシス
学内のみ
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