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名称 機関 メーカー 共用範囲
MF-UB2010C
ユニバーサル測定顕微鏡 (Optical Microscope)
京都大学
(株)ミツトヨ (Mitutoyo Corporation)
学内学外とも共用
MF-UB2010C
ユニバーサル測定顕微鏡 (Optical Microscope)
京都大学
(株)ミツトヨ (Mitutoyo Corporation)
学内学外とも共用
VHX1000
デジタルマイクロスコープ (Digital Microscope)
京都大学
(株)キーエンス (KEYENCE CORPORATION)
学内学外とも共用
VHX1000
デジタルマイクロスコープ (Digital Microscope)
京都大学
(株)キーエンス (KEYENCE CORPORATION)
学内学外とも共用
VHX7000
デジタルマイクロスコープ (Digital Microscope)
京都大学
(株)キーエンス (KEYENCE CORPORATION)
学内学外とも共用
JSM-IT800
多機能分析走査電子顕微鏡 (Multi-functional Analysis Scanning Electron Microscope)
奈良先端科学技術大学院大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
JEM-2200FS
200kV透過電子顕微鏡 (200kV Transmission Electron Microscope (TEM))
奈良先端科学技術大学院大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
HD-2700
走査透過電子顕微鏡 (STEM) (Scannning Transmission Electron Microscope (STEM))
奈良先端科学技術大学院大学
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
SU9000
超高分解能電界放出型電子顕微鏡 (Field-emission scanning electron microscope (FE-SEM))
奈良先端科学技術大学院大学
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
SU6600
低真空分析走査電子顕微鏡 (Scanning Electron Microsope (SEM))
奈良先端科学技術大学院大学
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
NE4000
微小デバイス特性評価装置 (Electron Beam Absorbed Current (EBAC) Characterization System nanoEBAC )
奈良先端科学技術大学院大学
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
NanoWizard ULTRA Speed 2
表面ダイナミクス原子間力顕微鏡装置 (Atomic Force Microscope System for Surface Dynamics)
奈良先端科学技術大学院大学
ブルカー (Bruker)
学内学外とも共用
H-3000
3MV超高圧電子顕微鏡 (3MV Ultra-High Voltage Electron Microscope)
大阪大学
日立製作所
学内学外とも共用
JEM-1000EES
1MV物質・生命科学超高圧電子顕微鏡?(1MV Materials- and Bio-Science UHVEM)
大阪大学
日本電子
学内学外とも共用
JEM-ARM200F
200kV原子分解能走査透過分析電子顕微鏡?(200kV atomic-resolution analytical TEM/STEM)
大阪大学
日本電子
学内学外とも共用
Titan Krios
300kVクライオ電子顕微鏡?(300kV Cryo-EM)
大阪大学
サーモフィッシャーサイエンティフィック
学内学外とも共用
Scios2
複合ビーム3次元加工・観察装置?(FIB-SEM)
大阪大学
サーモフィッシャーサイエンティフィック
学内学外とも共用
UC7
高分子・生物系電子顕微鏡用試料作製装置群?(Bio-Science TEM Sample Preparation Machines)
大阪大学
ライカマイクロシステムズ
学内学外とも共用
PIPS II
材料系電子顕微鏡用試料作製装置群?(Material-Science TEM Sample Preparation Machines)
大阪大学
アメテック
学内学外とも共用
HF-2000
電界放出型200kV高分解能電子顕微鏡?(200kV high-resolution FEG-TEM)
大阪大学
日立ハイテク
学内学外とも共用
H-800
200kV回折コントラスト電子顕微鏡?(200kV diffraction-contrast TEM)
大阪大学
日立ハイテク
学内学外とも共用
JEM-1400Flash
120kVマルチマテリアル用電顕
大阪大学
日本電子
学内学外とも共用
ORION NanoFab
高精細集束イオンビーム装置?(High definition focused ion beam system)
大阪大学
カールツァイス
学内学外とも共用
Nvision 40D with NPVE
SEM付集束イオンビーム装置?(Focused ion beam system with SEM)
大阪大学
カールツァイス
学内学外とも共用
AFM5000/AFM5300E
走査型プローブ顕微鏡?(Scanning Probe Microscope)
大阪大学
日立ハイテクサイエンス
学内学外とも共用
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電話番号:0564-55-7457
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