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名称 機関 メーカー 共用範囲
アルファーステップ IQZ
表面形状測定器(段差計) (Stylus profiler)
豊田工業大学
KLAテンコール (KLA-Tencor)
学内学外とも共用
NewView 7300
非接触3次元表面形状・粗さ測定機 (White-light interferometer)
豊田工業大学
ザイゴ (Zygo)
学内学外とも共用
VR-6200
三次元形状測定機 (3D shape measuring machine)
豊田工業大学
キーエンス
学内学外とも共用
AR-G2 KG
レオメーター
東海国立大学機構・岐阜大学
TA Instruments
学内学外とも共用
DMA Q800 KG
動的粘弾性測定装置
東海国立大学機構・岐阜大学
TA Instruments
学内学外とも共用
FPIA-3000
フロー式粒子像分析装置
東海国立大学機構・岐阜大学
Malvern Panalytical
学内学外とも共用
Zetasizer Nano ZS
粒子径・ゼータ電位・分子量測定装置
東海国立大学機構・岐阜大学
Malvern Panalytical
学内学外とも共用
Biacore T200
生体分子間相互作用解析システム
東海国立大学機構・岐阜大学
サイティバ
学内学外とも共用
Nanosight Pro
ナノ粒子解析システム(ナノサイトプロ)
東海国立大学機構・岐阜大学
マルバーン パナリティカル
学内学外とも共用
ELSZ-2Plus
ゼータ電位・粒径測定システム (Zeta Potential & Particle Size Analyzer)
京都大学
大塚電子(株) (Otsuka Electronics Co., Ltd.)
学内学外とも共用
DLS-8000DH
ダイナミック光散乱光度計 (Dynamic Light Scattering Spectrophotometer)
京都大学
大塚電子(株) (Otsuka Electronics Co., Ltd.)
学内学外とも共用
MSA-500-TPM2-20-D
マイクロシステムアナライザ (Micro System Analyzer)
京都大学
ポリテックジャパン(株) (Polytec)
学内学外とも共用
Dektak150
触針式段差計(CR) (Stylus Profilometer)
京都大学
Veeco社 (株)アルバック (Veeco Instruments Inc. ULVAC, Inc.)
学内学外とも共用
Dektak150
触針式段差計(加工評価室) (Stylus Profilometer)
京都大学
Veeco社 (株)アルバック (Veeco Instruments Inc. ULVAC, Inc.)
学内学外とも共用
DLS-6000
ダイナミック光散乱光度計 (Dynamic Laser Scattering Spectrometer)
奈良先端科学技術大学院大学
大塚電子 (Otsuka Electoronics)
学内学外とも共用
CEP-2000RP
分光感度・内部量子効率測定装置 (Solar Simulator)
奈良先端科学技術大学院大学
分光計器 (BUNKOUKEIKI)
学内学外とも共用
ET200
微細形状測定装置 (Microfigure Measurering Instrument)
奈良先端科学技術大学院大学
小坂製作所 (Kosaka)
学内学外とも共用
NANO-ZS
ナノ粒子解析装置(ゼーターサイザー)?(Zetasizer)
大阪大学
シスメックス(マルバーン)
学内学外とも共用
DektakXT
接触式膜厚測定器?(Stylus Profiler)
大阪大学
ブルカージャパン
学内学外とも共用
Newview 7300
3次元光学プロファイラーシステム
岡山大学
自然科学研究科
Zygo
学内学外とも共用
CLP-35
CNC精密表面形状測定機
岡山大学
自然科学研究科(工)
大阪精密
学内学外とも共用
Talyscan他
超精密現象デジタル解析装置
岡山大学
自然科学研究科(工)
Talor Hobson
学内のみ
SV-524
表面粗さ測定器
岡山大学
自然科学研究科(工)
ミツトヨ
学内学外とも共用
OLS5100-EAT
先端機素表面・性能評価システム 1-2.三次元測定レーザー顕微鏡システム
岡山大学
環境生命自然科学学域(工)
エビデント
学内のみ
Discovery HR-2
レオメーター
岡山大学
惑星物質研究所
ティー・エイ・インスツルメント
学内学外とも共用
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電話番号:0564-55-7457
MAIL : ic-pub_es@ims.ac.jp
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