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名称 機関 メーカー 共用範囲
Zeterseizer Nano-ZS
粒子径・ゼータ電位測定装置
岡山大学
惑星物質研究所
マルバーン・パナリティカル
学内学外とも共用
BELSORP MINI X
比表面積/細孔分布測定装置
岡山大学
惑星物質研究所
マイクロトラック・ベル
学内学外とも共用
AFT 5000
干渉式膜厚計?(Spectroscopic reflectometer)
広島大学
ナノメトリクスジャパン?(Nanometrics Inc)
学内学外とも共用
Dektak XT-E
表面段差計?(Profilometer)
広島大学
BRUKER?(BRUKER)
学内学外とも共用
Dektak8
触針式表面形状測定器 (Stylus-type surface shape measuring system)
香川大学
アルバック (ULVAC)
学内学外とも共用
NT91001A-in motion
白色干渉式非接触三次元形状測定器 (White light interference type non-contact three-dimensional shape measuring system)
香川大学
ブルカー・エイエックスエス (Bruker)
学内学外とも共用
ELSZ-2
ゼータ電位/粒径測定システム
九州大学
マテリアル先端リサーチインフラ
大塚電子
学内学外とも共用
BELSORP-mini II
触媒活性表面測定システム
九州大学
マテリアル先端リサーチインフラ
日本ベル
学内学外とも共用
SALD-300V
レーザー回折式粒度分布測定装置
九州大学
歯学研究院 生体材料学
島津製作所
学内のみ
ELS-Z1
ゼータ電位測定装置
九州大学
歯学研究院 生体材料学
大塚電子
部局内のみ
Zetasizer Nano ZS90
動的光散乱式 粒子径・ゼータ電位計
九州大学
システム情報科学研究院 電気システム工学部門
Malvern Instruments
学内のみ
BELSORP-max-12-SP
ガス吸着装置 BELSORP-max-12-SP
九州大学
マテリアル先端リサーチインフラ
日本ベル
学内学外とも共用
XTH320
X線CT非破壊内部状態・構造分析システム
九州大学
比較社会文化研究院
ニコン
学内学外とも共用
AutoPEM-ER01
ナノ炭素燃料電池評価システム AutoPEM-ER01 No.2
九州大学
マテリアル先端リサーチインフラ
東陽テクニカ
学内学外とも共用
AutoPEM-ER02
ナノ炭素燃料電池評価システム AutoPEM-ER02 No.3
九州大学
マテリアル先端リサーチインフラ
東陽テクニカ
学内学外とも共用
AutoPEM-ER02
ナノ炭素燃料電池評価システム AutoPEM-ER02 No.4
九州大学
マテリアル先端リサーチインフラ
東陽テクニカ
学内学外とも共用
SA-501
ナノ炭素燃料電池評価システム・ホットプレスSA-501
九州大学
マテリアル先端リサーチインフラ
テスター産業
学内学外とも共用
BELCAT-B
触媒活性表面測定システム BELCAT-B
九州大学
マテリアル先端リサーチインフラ
日本ベル
学内学外とも共用
ELSZneo
ゼータ電位・粒子径・分子量測定システム(ELSZneo)
九州大学
中央分析センター
大塚電子
学内学外とも共用
DektakXT-E
卓上型触針式プロファイリングシステム(DektakXT-E)
九州大学
中央分析センター
ブルカージャパン
学内学外とも共用
-
大型サンプル対応微細表面形状測定システム
九州大学
中央分析センター
ブルカージャパン
学内学外とも共用
Spectra-Physics
表面・界面分子振動解析装置 (Surface・interface molucular vibration analysis system)
九州大学
東京インスツルメンツ (Tokyo Instruments )
学内学外とも共用
NH-3SP
非接触三次元測定装置
分子科学研究所
装置開発室
三鷹光器
学内学外とも共用
Nexview
3次元光学プロファイラーシステム
分子科学研究所
装置開発室
Zygo (Zygo)
学内学外とも共用
P7
段差計
分子科学研究所
装置開発室
KLA Tencor 
学内学外とも共用
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電話番号:0564-55-7457
MAIL : ic-pub_es@ims.ac.jp
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