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名称 機関 メーカー 共用範囲
Alpha-Step D-500
触針式表面段差計 (Stylus Profilemeter)
筑波大学
KLA-TENCOR (KLA-TENCOR)
学内学外とも共用
Biacore X100
表面プラズモン共鳴装置 (Surface plasmon resonance (SPR) instrument)
物質・材料研究機構
サイティバ (Cytiva)
学内学外とも共用
ELSZ-1000Z
ゼータ電位計 (Zeta potential analyzer)
物質・材料研究機構
大塚電子 (Otsuka Electronics)
学内学外とも共用
DLS-8000HAL
動的光散乱光度計 (Dynamic light scattering (DLS) spectrophotometer)
物質・材料研究機構
大塚電子 (Otsuka Electronics)
学内学外とも共用
SALD-2100
粒度分布測定装置 (Particle size analyzer)
物質・材料研究機構
島津製作所 (Shimadzu)
学内学外とも共用
VCA Optima-XE
接触角計 (Contact angle meter)
物質・材料研究機構
AST Products (AST Products)
学内学外とも共用
TA-XT2i
テクスチャーアナライザー (Texture analyzer)
物質・材料研究機構
英弘精機 (EKO Instruments)
学内学外とも共用
ELSZ-2000ZS
ゼータ電位&粒径測定装置
物質・材料研究機構
大塚電子
学内学外とも共用
F54-XY-200-UV
顕微分光膜厚計 [F54-XY-200-UV]
物質・材料研究機構
フィルメトリクス株式会社 (FILMETRICS)
学内学外とも共用
Dektak XT-A
触針式プロファイラー [Dektak XT-A]
物質・材料研究機構
ブルカージャパン (Bruker)
学内学外とも共用
FLX-2000-A
薄膜応力測定装置 [FLX-2000-A]
物質・材料研究機構
東朋テクノロジー (Toho Technology)
学内学外とも共用
Dektak 6M
触針式プロファイラー [Dektak 6M]
物質・材料研究機構
ブルカージャパン
学内学外とも共用
Alpha-Step IQ
触針式段差計 (Contact Profiler)
産業技術総合研究所
KLA テンコール (KLA-Tencor)
学内学外とも共用
-
陽電子プローブマイクロアナライザー(PPMA) (Positron Probe MicroAnalyzer (PPMA))
産業技術総合研究所
産総研自主開発 (AIST Original)
学内学外とも共用
-
超伝導蛍光収量X線吸収微細構造分析装置 (SC-XAFS) (X-ray Absorption Fine Structure Spectroscopy with a Superconducting Fluorescence Detector (SC-XAFS))
産業技術総合研究所
産総研自主開発 (AIST Original)
学内学外とも共用
-
可視-近赤外過渡吸収分光装置 (VITA) (Visible/Near-Infrared Transient Absorption Spectrometer (VITA))
産業技術総合研究所
産総研自主開発 (AIST Original)
学内学外とも共用
VHX-6000 DektakXT Tohospec3100 Suss8”プローバ M-550 LEXT OLS5000
形状・膜厚・電気特性評価装置群 (Series of analysis equipments, visual, thickness, and electrical/mechanical characteristic.)
東京大学
キーエンス ブルカー 東朋テクノロジー ズースマイクロテック 日本分光 オリンパス (Keyence BRUKER Toho Technology SUSS MicroTec JASCO Olympus)
学内学外とも共用
MSA-500
機械特性評価装置 (MSA-500 Micro System Analyzer)
東京大学
ポリテック (Polyltec)
学内学外とも共用
SE2
ウルトラミクロ天びん
東京科学大学
オープンファシリティセンター
ザルトリウス
学内のみ
MSA2
ウルトラミクロ天びん
東京科学大学
オープンファシリティセンター
ザルトリウス
学内のみ
ME5
ミクロ天びん
東京科学大学
オープンファシリティセンター
ザルトリウス
学内のみ
XP-1
ミクロ天びん
東京科学大学
オープンファシリティセンター
メトラートレド
学内のみ
DAWN HELEOS II・Optilab T-rEX・Dynapro NanoStar
光散乱検出器システム
東京科学大学
オープンファシリティセンター
ワイアット テクノロジー
学内学外とも共用
ME36S
ミクロ電子天びん
東京科学大学
オープンファシリティセンター
ザルトリウス
学内のみ
VR-3000, VR-3100
3D形状測定機(3D-CMM)
東京科学大学
先端研究基盤共用促進事業
キーエンス
学内のみ
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電話番号:0564-55-7457
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