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名称 機関 メーカー 共用範囲
SU-8000
電界放出形走査電子顕微鏡
物質・材料研究機構
日立ハイテク
学内学外とも共用
ORBIS PC
微小部蛍光X線分析装置
物質・材料研究機構
アメテック株式会社
学内学外とも共用
ICS-1600
イオンクロマトグラフシステム
物質・材料研究機構
サーモフィッシャーサイエンティフィック(株)
学内学外とも共用
VG9000
マルチガス導入グロー放電質量分析システム
物質・材料研究機構
サーモフィッシャーサイエンティフィック(株)
学内学外とも共用
JSM-6500F
電界放出形走査電子顕微鏡
物質・材料研究機構
日本電子
学内学外とも共用
JSM-6510
走査電子顕微鏡
物質・材料研究機構
日本電子
学内学外とも共用
SMF-1000
微細組織3次元マルチスケール解析装置 (Orthogonal FIB-SEM)
物質・材料研究機構
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
NX5000
TEM試料自動作製FIB-SEM複合装置 (FIB-SEM combined apparatus for automatic preparation of TEM specimens)
物質・材料研究機構
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
Model 1040 Nanomill
無損傷電子顕微鏡試料薄片化装置 (Damage-less TEM specimen milling apparatus)
物質・材料研究機構
フィッシオーネ (Fischione)
学内学外とも共用
695PIPS II 他
セラミックス試料作製装置群 (Ceramics sample preparation facilities)
物質・材料研究機構
ガタン 日立ハイテク 真空デバイス マルトー TECHNOORG-LINDA
学内学外とも共用
JEM-ARM200F-G
実動環境対応物理分析電子顕微鏡 (Real working environment physical characterization TEM)
物質・材料研究機構
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
JEM-ARM200F-B
実動環境対応電子線ホログラフィー電子顕微鏡 (Real working environmental electron holography microscope)
物質・材料研究機構
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
JEM-2100F1
200kV電界放出形透過電子顕微鏡 (200kV field emission transmission electron microscope)
物質・材料研究機構
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
JEM-2100F2
200kV電界放出形透過電子顕微鏡 (200kV field emission transmission electron microscope)
物質・材料研究機構
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
JEM-2100
200kV透過電子顕微鏡 (200kV transmission electron microscope)
物質・材料研究機構
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
Lightning
2軸傾斜バイアス印加・加熱TEM試料ホルダー (Double-tilt bias and heating TEM holder)
物質・材料研究機構
DENSsolutions (DENSsolutions)
学内学外とも共用
Gatan 636
2軸傾斜液体窒素冷却TEM試料ホルダー (Double-tilt LN2 cryo TEM holder)
物質・材料研究機構
Gatan (Gatan)
学内学外とも共用
JSM-7000F
走査型電子顕微鏡 (Field emission scanning electron microscope)
物質・材料研究機構
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
NB5000
デュアルビーム加工観察装置 (Dual Beam system)
物質・材料研究機構
日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Technologies)
学内学外とも共用
JIB-4000
FIB加工装置(JIB-4000)
物質・材料研究機構
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
JEM-9320FIB
FIB加工装置(JEM-9320FIB)
物質・材料研究機構
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
JEM-9310FIB
FIB加工装置(JEM-9310FIB)
物質・材料研究機構
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
-
ピックアップシステム (Pick-up System)
物質・材料研究機構
-
学内学外とも共用
Leica EM UC6
ウルトラミクロトーム (Ultramicrotome)
物質・材料研究機構
ライカマイクロシステムズ (Leica Microsystems)
学内学外とも共用
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電子線トモグラフィー解析システム (Electron tomography analysis system)
物質・材料研究機構
-
学内学外とも共用
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電話番号:0564-55-7457
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