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名称 機関 メーカー 共用範囲
SPM-9700
走査プローブ顕微鏡SPM_2[SPM-9600/9700] (Scanning Probe Microscope 2〔SPM2, SPM-9600/9700〕)
産業技術総合研究所
島津製作所 (SHIMADZU)
学内学外とも共用
SFT_3500
ナノサーチ顕微鏡SPM_3[SFT-3500] (Scanning Probe Microscope 3〔SPM3, SFT-3500, Nano Search Microscope〕)
産業技術総合研究所
島津製作所 (SHIMADZU)
学内学外とも共用
N-6000SS
ナノプローバ[N-6000SS] (NanoProber〔N-6000SS〕)
産業技術総合研究所
日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
VK-9700
短波長レーザー顕微鏡[VK-9700] (Laser Microscope〔VK-9700〕)
産業技術総合研究所
キーエンス (KEYENCE)
学内学外とも共用
OLS-4100
短波長レーザー顕微鏡[OLS-4100] (Laser Microscope〔OLS-4100〕)
産業技術総合研究所
オリンパス (Olympus)
学内学外とも共用
ERA-9200
3次元電界放出形走査電子顕微鏡(エリオニクス) (3 Dimensional Field Emission SEM)
産業技術総合研究所
エリオニクス (ELIONIX)
学内学外とも共用
(1) RSPM1:JSPM5400、(2) RSPM2:E-SWEEP/S-Image
リアル表面プローブ顕微鏡(RSPM) (Real Surface Probe Microscope (RSPM) )
産業技術総合研究所
(1) RSPM1: 日本電子、(2) RSPM2: SII(現・日立ハイテクサイエンス)
学内学外とも共用
・検出器:産総研自主開発 ・顕微鏡:HITACHI S-4500
超伝導蛍光X線検出器付走査型電子顕微鏡 (SC-SEM) (Scanning Electron Microscope with a Superconducting Tunnel Junction X-ray Detector (SC-SEM))
産業技術総合研究所
・検出器:産総研自主開発 ・顕微鏡:日立 (・Detector: AIST Original ・SEM: HITACHI )
学内学外とも共用
JEM-ARM200CF
低加速電圧対応原子分解能走査型透過電子顕微鏡 (Low-voltage atomic-resolution Scanning Transmision Electron Microscopy)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JEM-ARM200F Cold FE
軽元素対応型超高分解能走査透過型電子顕微鏡(Cs-STEM) (Light elements visible ultra-high-resolution scanning transmission electron microscope)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JEM-ARM200F Cold FE
超高分解能透過型電子顕微鏡(Cs-HRTEM) (Ultra-high-resolution transmission electron microscope)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JEM-ARM200F Cold FE
環境対応型超高分解能走査透過型電子顕微鏡 (Environmental-adapted ultra-high-resolution scanning transmission electron microscope)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JEM-ARM200F Thermal FE STEM
原子分解能元素マッピング構造解析装置 ( Atomic resolution element mapping structure analyzer)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JEM-2800
ハイスループット電子顕微鏡 (High Throughput Electron Microscope)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JEM-2010F
高分解能分析電子顕微鏡 (Transmission electron microscope)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JEM-2010HC
ハイコントラスト透過型電子顕微鏡 (High Contrast Transmission Electron Microscope)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JEM-2100F
クライオ透過型/透過走査型電子顕微鏡 (Cryo-TEM/STEM)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JEM-1400
有機材料ハイコントラスト透過型電子顕微鏡 (Bio-TEM)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JEM-F200
多機能電界放出型透過電子顕微鏡
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JSM-7500FA
低損傷走査型分析電子顕微鏡 (Low Damage Field Emission Scanning Electron Microscope)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JSM-7800F Prime
高分解能走査型分析電子顕微鏡 (Field Emission Scanning Electron Microscope)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JSM-7000F
高分解能走査型電子顕微鏡 (Field Emission Scanning Electron Microscope)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JSM-6510LA
低真空走査型電子顕微鏡 (Low-vacuum Scannning Electron Microscope)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JSM-IT800SHL
高分解能走査型分析電子顕微鏡
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
XVision200TB
CADデータ連動3次元機能融合デバイス評価用前処理システム (Preprocessing system for device evaluation that integrates 3D functions linked with CAD data)
東京大学
日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
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自然科学研究機構 分子科学研究所 機器センター
電話番号:0564-55-7457
MAIL : ic-pub_es@ims.ac.jp
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