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名称 機関 メーカー 共用範囲
JEM-2100Plus
透過電子顕微鏡 (Transmission Electron Microscope)
東北大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
TESCAN Amber-X
プラズマ集束イオンビーム加工装置
東北大学
東洋テクニカ
学内学外とも共用
VK-X100
形状解析レーザ顕微鏡 (3D laser scanning confocal microscope)
山形大学
キーエンス (Keyence)
学内学外とも共用
WPA-300
フィルム物性測定システム
山形大学
フォトニックラティス
学内学外とも共用
Helios NanoLab 600i
FIB-SEM (Focused Ion beam - Scanning Electron Microscope)
筑波大学
FEI (FEI)
学内学外とも共用
Dimension Icon
走査型プローブ顕微鏡 (Scanning Probe Microscope)
筑波大学
Bruker (Bruker)
学内学外とも共用
SU-8020
電界放出型走査電子顕微鏡 (Field-Emission Scanning Electron Microscope)
筑波大学
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
IM4000PLUS
イオンミリング (Ion Milling System)
筑波大学
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
SP5
共焦点レーザー走査型蛍光顕微鏡 (Confocal laser scanning fluorescence microscope)
物質・材料研究機構
ライカマイクロシステムズ (Leica Microsystems)
学内学外とも共用
NanoWizard 4 XP
液中原子間力顕微鏡 (Atomic force microscope (AFM) in liquid)
物質・材料研究機構
ブルカー (Bruker)
学内学外とも共用
Miniscope TM4000PlusII Miniscope TM3000
卓上走査型電子顕微鏡装置群 (Tabletop scanning electron microscope (SEM))
物質・材料研究機構
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
JSM-7001F
ショットキー電界放出型走査電子顕微鏡
物質・材料研究機構
日本電子
学内学外とも共用
SU-8000
電界放出形走査電子顕微鏡
物質・材料研究機構
日立ハイテク
学内学外とも共用
JSM-6500F
電界放出形走査電子顕微鏡
物質・材料研究機構
日本電子
学内学外とも共用
JSM-6510
走査電子顕微鏡
物質・材料研究機構
日本電子
学内学外とも共用
SMF-1000
微細組織3次元マルチスケール解析装置 (Orthogonal FIB-SEM)
物質・材料研究機構
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
NX5000
TEM試料自動作製FIB-SEM複合装置 (FIB-SEM combined apparatus for automatic preparation of TEM specimens)
物質・材料研究機構
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
Model 1040 Nanomill
無損傷電子顕微鏡試料薄片化装置 (Damage-less TEM specimen milling apparatus)
物質・材料研究機構
フィッシオーネ (Fischione)
学内学外とも共用
695PIPS II 他
セラミックス試料作製装置群 (Ceramics sample preparation facilities)
物質・材料研究機構
ガタン 日立ハイテク 真空デバイス マルトー TECHNOORG-LINDA
学内学外とも共用
JEM-ARM200F-G
実動環境対応物理分析電子顕微鏡 (Real working environment physical characterization TEM)
物質・材料研究機構
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
JEM-ARM200F-B
実動環境対応電子線ホログラフィー電子顕微鏡 (Real working environmental electron holography microscope)
物質・材料研究機構
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
JEM-2100F1
200kV電界放出形透過電子顕微鏡 (200kV field emission transmission electron microscope)
物質・材料研究機構
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
JEM-2100F2
200kV電界放出形透過電子顕微鏡 (200kV field emission transmission electron microscope)
物質・材料研究機構
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
JEM-2100
200kV透過電子顕微鏡 (200kV transmission electron microscope)
物質・材料研究機構
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
Lightning
2軸傾斜バイアス印加・加熱TEM試料ホルダー (Double-tilt bias and heating TEM holder)
物質・材料研究機構
DENSsolutions (DENSsolutions)
学内学外とも共用
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電話番号:0564-55-7457
MAIL : ic-pub_es@ims.ac.jp
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