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名称 機関 メーカー 共用範囲
Gatan 636
2軸傾斜液体窒素冷却TEM試料ホルダー (Double-tilt LN2 cryo TEM holder)
物質・材料研究機構
Gatan (Gatan)
学内学外とも共用
JSM-7000F
走査型電子顕微鏡 (Field emission scanning electron microscope)
物質・材料研究機構
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
NB5000
デュアルビーム加工観察装置 (Dual Beam system)
物質・材料研究機構
日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Technologies)
学内学外とも共用
JIB-4000
FIB加工装置(JIB-4000)
物質・材料研究機構
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
JEM-9320FIB
FIB加工装置(JEM-9320FIB)
物質・材料研究機構
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
JEM-9310FIB
FIB加工装置(JEM-9310FIB)
物質・材料研究機構
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
-
ピックアップシステム (Pick-up System)
物質・材料研究機構
-
学内学外とも共用
Leica EM UC6
ウルトラミクロトーム (Ultramicrotome)
物質・材料研究機構
ライカマイクロシステムズ (Leica Microsystems)
学内学外とも共用
Dimple Grinder(Model 656) PIPS II 他
TEM試料作製装置群 (TEM sample preparation apparatus)
物質・材料研究機構
Gatan 日本電子 BEUHLER Allied 日本レーザー電子真空デバイス マルトー
学内学外とも共用
Helios 650
FIB/SEM精密微細加工装置
物質・材料研究機構
日本エフイー・アイ株式会社
学内学外とも共用
S-4800
FE-SEM [S-4800]
物質・材料研究機構
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
Jupiter XR
走査型プローブ顕微鏡 [Jupiter XR]
物質・材料研究機構
オックスフォード・インストゥルメンツ (Oxford Instruments)
学内学外とも共用
LEXT OLS4000
レーザー顕微鏡 [LEXT OLS4000]
物質・材料研究機構
オリンパス (OLYMPUS)
学内学外とも共用
S-4800
FE-SEM+EDX [S-4800]
物質・材料研究機構
日立ハイテク
学内学外とも共用
SU8000
FE-SEM+EDX [SU8000]
物質・材料研究機構
日立ハイテク
学内学外とも共用
SU8230
FE-SEM+EDX [SU8230]
物質・材料研究機構
日立ハイテク
学内学外とも共用
TM3000
卓上電子顕微鏡 [TM3000]
物質・材料研究機構
日立ハイテク
学内学外とも共用
L-trace
走査型プローブ顕微鏡 [L-trace]
物質・材料研究機構
日立ハイテクサイエンス
学内学外とも共用
VK-9700
レーザー顕微鏡 [VK-9700]
物質・材料研究機構
キーエンス
学内学外とも共用
S4800
電界放出形走査電子顕微鏡[S4800_FE-SEM] (Field Emission SEM〔S4800/FE-SEM, HITACHI〕)
産業技術総合研究所
日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
S-3500N
低真空走査電子顕微鏡 (Low Vacuum SEM (HITACHI))
産業技術総合研究所
日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
IM4000
クロスセクションポリッシャー(ALD付帯) (Cross Section Polisher)
産業技術総合研究所
日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
3-IBE
アルゴンミリング装置 (Argon Ion Milling System)
産業技術総合研究所
伯東 (Hakuto)
学内学外とも共用
FB-2100
集束イオンビーム加工観察装置(FIB) (Focused Ion Beam System(FIB))
産業技術総合研究所
日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
Nanoscope?/Dimension3100
走査プローブ顕微鏡SPM_1[Nanoscope?/Dimension3100] (Scanning Probe Microscope 1 (SPM1, NanoscopeIV/Dimension 3100))
産業技術総合研究所
デジタルインスツルメンツ (Veeco/Digital Instruments )
学内学外とも共用
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電話番号:0564-55-7457
MAIL : ic-pub_es@ims.ac.jp
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